
離子束蝕刻:復(fù)雜表面結(jié)構(gòu)的精確處理
離子束蝕刻法是一種高精度的表面加工方法,也被稱為離子束磨法。帶正電荷的離子束(通常是氦離子)被加速到襯底上。因此,離子將其動能轉(zhuǎn)移到表面原子,導(dǎo)致它們被噴出,從而去除材料。為了達(dá)到均勻而準(zhǔn)確的蝕刻效果,在該過程中基材被旋轉(zhuǎn),而離子束的直徑比基材大。
離子束蝕刻的優(yōu)點(diǎn):
高精度-通過蝕刻在一個定義的入射角和可調(diào)離子能,甚至復(fù)雜的結(jié)構(gòu)可以創(chuàng)造高精度。
低襯底溫度,最大限度地減少熱引起的變形或?qū)Σ牧系膿p害。
高通用性:離子束蝕刻適合廣泛的材料,包括金屬,半導(dǎo)體,聚合物和陶瓷。
表面清潔:氧化物層或其他污染物可以從表面清除。
離子束蝕刻的特殊形式是 反應(yīng)離子束蝕刻 (里貝)和 化學(xué)輔助離子束蝕刻 (Caibe),除惰性氣體外,還使用活性氣體,例如。,增加選擇性,影響溝槽角或提高蝕刻速率。
1、Scia Moll150
小型生產(chǎn)系統(tǒng)和150mm底材的研發(fā)應(yīng)用
離子束蝕刻
反應(yīng)離子束蝕刻
化學(xué)輔助離子束蝕刻
特點(diǎn)和益處:
可傾斜和可旋轉(zhuǎn)襯底架的蝕刻角調(diào)整
無塑造器的優(yōu)良均勻性
活性氣體的選擇性和速率提高
采用精確的西姆斯或光學(xué)端點(diǎn)檢測進(jìn)行工藝控制
適應(yīng)可變基板尺寸的載體概念
由于晶圓冷卻良好,用光刻膠面罩加工晶圓
應(yīng)用程序:
由迪亞斯紅外有限公司提供的蝕刻邊緣掃描圖像。
熱釋電傳感器用光刻膠和15度入射角蝕酸鋰蝕刻。
左:標(biāo)準(zhǔn)光刻膠面膜,邊緣鋒利。
右:優(yōu)化后的光刻膠邊緣光滑,提高了傳感器的電合性能.
磁記憶(MRAM)和傳感器的結(jié)構(gòu)化
金屬在MEMS生產(chǎn)中的軋制(非洲、俄羅斯、美國、…)
不同金屬和介質(zhì)材料多層軋制
復(fù)合半導(dǎo)體的化學(xué)輔助離子束蝕刻(CAAS,GAN,INP,…)
生產(chǎn)三維光電微結(jié)構(gòu)
離子束平滑用于減小微細(xì)度
反射離子束蝕刻用于光光柵模式傳輸(sio2)
申請表:
地面浮雕光柵 電子設(shè)備和電子設(shè)備
磁多層 for tunnel-magneto-resistance (TMR) sensors
制造超薄鈦酸鋰 紅外傳感器
逆向工程 集成電路芯片設(shè)備
原則:
圓形離子束源在惰性或活性氣體的一定角度下蝕刻整個襯底區(qū)域
技術(shù):
離子束蝕刻/離子束研磨
使用惰性氣體離子的準(zhǔn)直束結(jié)構(gòu)或材料去除。
反應(yīng)離子束蝕刻
將活性氣體引入離子束源中,用于表面的活性蝕刻。
化學(xué)輔助離子束蝕刻
使用活性氣體獨(dú)立于離子束進(jìn)行表面的活性蝕刻。
底板尺寸(最大) | 150毫米口徑。 |
基座 | 水冷、氦背面冷卻接觸,襯底旋轉(zhuǎn)1-20轉(zhuǎn),可在0-165°每0.1°的位置旋轉(zhuǎn) |
離子束源 | 190毫米循環(huán)微波ECR源(MW218-E) |
中和器 | 三重等離子橋中和器(N-3DC) |
堿壓 | < 5 x 10 -7 馬巴 |
系統(tǒng)尺寸(WxDxH) | 1.90米x1.80米x1.75米(無電架) |
配置 | 單室,可選的單襯底負(fù)載鎖定,可選的OSS或SimS端點(diǎn)檢測 |
軟件接口 | SECS II / GEM, OPC |
典型清除率 | 高級官員 2 30納米/分鐘 |
均勻性變異 | ≤ 3 % (σ/mean) |
2、Scia Moll200
大規(guī)模生產(chǎn)不超過200毫米的晶圓的系統(tǒng)
離子束蝕刻
反應(yīng)離子束蝕刻
化學(xué)輔助離子束蝕刻
咨詢電話:13522079385
全表面離子束蝕刻200mm晶圓
… 200 是設(shè)計(jì)用于結(jié)構(gòu)復(fù)雜的多層各種材料。為了精確的工藝控制,可以配備不同的端點(diǎn)檢測系統(tǒng).該系統(tǒng)具有完全活性氣體兼容性,使反應(yīng)蝕刻過程具有更高的選擇性和速率。該靈活設(shè)計(jì)的科學(xué)磨機(jī)200使其適應(yīng)作為單一的基板版本,以及在高產(chǎn)量的生產(chǎn)集群布局最多三個加工室和兩個卡式負(fù)載鎖。
特點(diǎn)和益處
可傾斜和可旋轉(zhuǎn)襯底架的蝕刻角調(diào)整
無塑造器的優(yōu)良均勻性
活性氣體的選擇性和速率提高
采用精確的西姆斯或光學(xué)端點(diǎn)檢測進(jìn)行工藝控制
由于晶圓冷卻良好,用光刻膠面罩加工晶圓
可變集群布局全自動磁帶處理,包括SESS/GEM通信
應(yīng)用程序
使用Sims光譜法對旋轉(zhuǎn)式傳感器的層棧進(jìn)行蝕刻,可以確定層的變化邊界,從而精確地定義角度和蝕刻停止點(diǎn)的變化。左邊:層棧。右:西姆斯材料檢測。
磁記憶(MRAM)和傳感器的結(jié)構(gòu)化
金屬在MEMS生產(chǎn)中的軋制(非洲、俄羅斯、美國、…)
不同金屬和介質(zhì)材料多層軋制
復(fù)合半導(dǎo)體的化學(xué)輔助離子束蝕刻(CAAS,GAN,INP,…)
生產(chǎn)三維光電微結(jié)構(gòu)
離子束平滑用于減小微細(xì)度
反射離子束蝕刻用于光光柵的模式傳輸 2 )
申請表
地面浮雕光柵 電子設(shè)備和電子設(shè)備
磁多層 for tunnel-magneto-resistance (TMR) sensors
制造超薄鈦酸鋰 紅外傳感器
逆向工程 集成電路芯片設(shè)備
原則
圓形離子束源在惰性或活性氣體的一定角度下蝕刻整個襯底區(qū)域
技術(shù)
離子束蝕刻/離子束研磨
使用惰性氣體離子的準(zhǔn)直束結(jié)構(gòu)或材料去除。
反應(yīng)離子束蝕刻
將活性氣體引入離子束源中,用于表面的活性蝕刻。
化學(xué)輔助離子束蝕刻
使用活性氣體獨(dú)立于離子束進(jìn)行表面的活性蝕刻。
底板尺寸(最大) | 200毫米口徑。 |
基座 | 水冷、氦背面冷卻接觸,襯底旋轉(zhuǎn)1-20轉(zhuǎn),可在0-170度每0.1度的位置上傾斜 |
離子束源 | 350毫米循環(huán)射頻源(RF350-E) |
中和器 | 射頻等離子體橋中和劑 |
產(chǎn)量 | 12 Wafer/h (100 nm SiO 2 200mm晶圓片) |
堿壓 | < 5 x 10 -7 馬巴 |
系統(tǒng)尺寸(WxDxH) | 3個機(jī)房和盒式磁帶裝卸(沒有電器架和泵) |
配置 | 單室,可選的單基板負(fù)載鎖定或磁帶處理,最多可有3個加工室和磁帶處理的集群系統(tǒng),可選的操作系統(tǒng)或基于模擬的終端檢測 |
軟件接口 | SECS II / GEM, OPC |
典型清除率 | Cu: 60 nm/min, Pt: 35 nm/min, W: 18 nm/min, SiO 2 : 20 nm/min (inert), SiO 2 : 40 - 60 nm/min (reactive) |
均勻性變異 | ≤ 1 % (σ/mean) |
3、Scia Moll300
300mm以下晶圓的全表面蝕刻系統(tǒng)
離子束蝕刻
反應(yīng)離子束蝕刻
化學(xué)輔助離子束蝕刻
300mm晶圓上復(fù)雜多層結(jié)構(gòu)的構(gòu)建
… 300 是為?離子束蝕刻 有300毫米直徑的襯底材料。不同的端點(diǎn)檢測系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)精確的過程控制,而且系統(tǒng)的全反應(yīng)氣體兼容性能夠提高選擇性和速率的反應(yīng)蝕刻過程。本系統(tǒng)設(shè)計(jì)靈活,既可用于帶卡式裝載的大批量生產(chǎn),又可用于單基板負(fù)載鎖定的小型生產(chǎn)。
特點(diǎn)和益處:
可傾斜和可旋轉(zhuǎn)襯底架的蝕刻角調(diào)整
無塑造器的優(yōu)良均勻性
活性氣體的選擇性和速率提高
采用精確的西姆斯或光學(xué)端點(diǎn)檢測進(jìn)行工藝控制
由于晶圓冷卻良好,用光刻膠面罩加工晶圓
可變集群布局全自動磁帶處理,包括SESS/GEM通信
應(yīng)用程序
斜面浮雕光柵(SRG)作為增強(qiáng)現(xiàn)實(shí)光耦合器(AR)的反應(yīng)離子束蝕刻。左邊:離子束在不同入射角下蝕刻。右:從原理和掃描電鏡結(jié)果看蝕刻石英光柵。
磁記憶(MRAM)和傳感器的結(jié)構(gòu)化
金屬在MEMS生產(chǎn)中的軋制(非洲、俄羅斯、美國、…)
不同金屬和介質(zhì)材料多層軋制
復(fù)合半導(dǎo)體的化學(xué)輔助離子束蝕刻(CAAS,GAN,INP,…)
生產(chǎn)三維光電微結(jié)構(gòu)
離子束平滑用于減小微細(xì)度
反射離子束蝕刻用于光光柵模式傳輸(sio2)
申請表:
地面浮雕光柵 電子設(shè)備和電子設(shè)備
磁多層 for tunnel-magneto-resistance (TMR) sensors
制造超薄鈦酸鋰 紅外傳感器
逆向工程 集成電路芯片設(shè)備
原則:
圓形離子束源在惰性或活性氣體的一定角度下蝕刻整個襯底區(qū)域
技術(shù):
離子束蝕刻/離子束研磨
使用惰性氣體離子的準(zhǔn)直束結(jié)構(gòu)或材料去除。
反應(yīng)離子束蝕刻
將活性氣體引入離子束源中,用于表面的活性蝕刻。
化學(xué)輔助離子束蝕刻
使用活性氣體獨(dú)立于離子束進(jìn)行表面的活性蝕刻。
底板尺寸(最大) | 300毫米口徑。 |
基座 | 水冷、氦背面冷卻接觸,襯底旋轉(zhuǎn)1-20轉(zhuǎn),可在0-170度每0.1度的位置上傾斜 |
離子束源 | 450毫米循環(huán)射頻源(RF450-E) |
中和器 | 射頻等離子體橋中和劑 |
產(chǎn)量 | 12 Wafer/h (100 nm SiO 2 ) |
堿壓 | < 5 x 10 -7 馬巴 |
系統(tǒng)尺寸(WxDxH) | 單室,單襯底負(fù)載鎖定(沒有電架和水泵),2.70米x1.50米x2.00米 |
配置 | 單室,可選擇的單襯底負(fù)載鎖定或磁帶處理, |
軟件接口 | SECS II / GEM, OPC |
典型清除率 | Cu: 60 nm/min, Pt: 35 nm/min, W: 18 nm/min, SiO 2 : 20 nm/min (inert), SiO 2 : 40 - 60 nm/min (reactive) |
均勻性變異 | ≤ 2 % (σ/mean) |